E+H雷达物位计一般都有哪些测量条件呢？
·出现沸腾表面、起泡表面或易生成泡沫液面时，使用FMR53或FMR54测量。根据泡沫的具体成份，泡沫可以吸取微波，或微波在泡沫表面发生发射。在特定条件下，测量仍可进行。使用FMR50、FMR51和FMR52测量时，建议选择附加选项“高级动态响应”(订购选项540:“应用App包”，选型代号:EM)。
·出现严重蒸汽或冷凝现象时，E+H雷达物位计FMR50、FMR51和FMR52的*大测量范围可能会减小，取决于蒸汽的密度、温度和成份>请使用FMR53或FMR54测量。
·测量吸附性气体时，例如:氨气NH3或某些碳氢化合物2)，请在导波管中使用Levelflex或Micropilot FMR54测量。
·波束射至罐底的位置即为量程起点。特别是在圆盘底罐或带锥形出料口的罐体中，物位低于此点，便无法测量。
·在导波管中测量时，电磁波不会完全扩散至导波管外部，应将零点设置在导波管底部。在C范围内测量时，测量精度将降低。为了确保此类应用场合中所需的测量精度，建议将零点设置在导波管底部上方的C。
·测量低介电常数的介质时(e,=1...4)3)，如果介质处于较低物位(低于C),罐底可见。在此范围内测量时，精度将降低。如无法接受，在此类应用场合中，建议将零点设置在罐底上方的C。
·理论上，E+H雷达物位计*大可测量至FMR51、FMR53和FMR54天线末端。但是，考虑腐蚀和粘附的影响，*大量程与天线末端间的距离不得小于A。
·使用带平面天线的FMR54测量时，特别是测量低介电常数的介质时，*大量程与法兰间的距离不得小A:1 m(3.28 ft)。
